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  • 中科芯电

    中科芯电半导体科技(北京)有限公司

    存续
    • 地址:北京市大兴区西红门镇金盛大街2号院
    • 简介:-
    • 商标信息 12
    • 专利信息 17
    • 软件著作权 9
    • 作品著作权 0
    • 网站备案 2

    商标信息12

    序号 商标名称 国际分类 注册号 状态 申请日期 操作
    1 中科芯电 ACS 01类-化学原料 31596459 商标已注册 2018-06-13 查看
    2 中科芯电 ACS 38类-通讯服务 31594883 等待实质审查 2018-06-13 查看
    3 中科芯电 ACS 09类-科学仪器 31588931 商标已注册 2018-06-13 查看
    4 中科芯电 ACS 35类-广告销售 31581285 商标无效 2018-06-13 查看
    5 中科芯电 09类-科学仪器 31124099 商标已注册 2018-05-23 查看
    6 ACS 01类-化学原料 31124055 商标已注册 2018-05-23 查看
    7 ACS 38类-通讯服务 31120965 商标已注册 2018-05-23 查看
    8 ACS 35类-广告销售 31120918 商标无效 2018-05-23 查看
    9 中科芯电 38类-通讯服务 31117643 商标无效 2018-05-23 查看
    10 ACS 09类-科学仪器 31116473 商标已注册 2018-05-23 查看

    专利信息17

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 应用于VCSEL结构外延片的光致发光测试的逐层刻蚀方法及其VCSEL结构外延片 发明专利 CN201811563848.X CN109507006B 2021-09-28
    2 一种GaAs基高电子迁移率晶体管材料及其制备方法 发明专利 CN201810660416.4 CN108565285B 2021-09-28
    3 一种用于光致发光测试的VCSEL结构外延材料结构及制备方法 发明专利 CN201811564308.3 CN111355118B 2021-07-20
    4 改善低掺杂浓度材料表面欧姆接触的方法及材料 发明专利 CN201811137925.5 CN109273357B 2021-03-23
    5 一种用于光致发光测试的VCSEL结构外延材料结构及制备方法 发明专利 CN201811564308.3 CN111355118A 2020-06-30
    6 一种应用于高电子迁移率晶体管的缓冲层结构和材料结构 实用新型 CN201921265321.9 CN210349843U 2020-04-17
    7 一种增大自旋轨道耦合的方法和自旋晶体管 发明专利 CN202010050900.2 CN110875182B 2020-03-10
    8 一种增大自旋轨道耦合的方法和晶体管 发明专利 CN202010050900.2 CN110875182A 2020-03-10
    9 一种制作InSb红外探测器的材料结构及其制备方法 发明专利 CN201910074399.0 CN109817754A 2019-05-28
    10 一种多霍尔测试样品的测试夹具、测试控制器及测试方法 发明专利 CN201811586561.9 CN109696568A 2019-04-30

    软件著作权9

    序号 软件名称 软件简称 版本号 登记号 分类号 首次发表日期 登记批准日期
    1 中科芯电晶片电阻率检测程序系统 - V1.0 2018SR243262 30200-0000 - 2018-04-11
    2 中科芯电晶片传递装置管理系统 - V1.0 2018SR242021 30200-0000 - 2018-04-10
    3 中科芯电晶片薄膜厚度检测程序系统 - V1.0 2018SR242017 30200-0000 - 2018-04-10
    4 中科芯电晶片表面缺陷检测程序系统 - V1.0 2018SR241804 30200-0000 - 2018-04-10
    5 中科芯电晶片清洗装置管理系统 - V1.0 2018SR241795 30200-0000 - 2018-04-10
    6 中科芯电晶片烘烤装置管理系统 - V1.0 2018SR240601 30200-0000 - 2018-04-10
    7 中科芯电晶片迁移率检测程序系统 - V1.0 2018SR240598 30200-0000 - 2018-04-10
    8 中科芯电晶片浓度检测程序系统 - V1.0 2018SR240592 30200-0000 - 2018-04-10
    9 中科芯电晶片表面颗粒度检测程序系统 - V1.0 2018SR240589 30200-0000 - 2018-04-10

    作品著作权0

    暂无信息 暂无作品著作权

    网站备案2

    序号 网站名 网址 备案号 主办单位性质 审核日期
    1 中科芯电半导体科技(北京)有限公司 www.acs-semi.com 京ICP备18020543号 企业 2021-12-29
    2 中科芯电半导体科技(北京)有限公司 www.acs-semi.com 京ICP备18020543号 企业 2018-04-25
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