商标信息12
序号 | 商标名称 | 国际分类 | 注册号 | 状态 | 申请日期 | 操作 |
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1 | 中科芯电 ACS | 01类-化学原料 | 31596459 | 商标已注册 | 2018-06-13 | 查看 |
2 | 中科芯电 ACS | 38类-通讯服务 | 31594883 | 等待实质审查 | 2018-06-13 | 查看 |
3 | 中科芯电 ACS | 09类-科学仪器 | 31588931 | 商标已注册 | 2018-06-13 | 查看 |
4 | 中科芯电 ACS | 35类-广告销售 | 31581285 | 商标无效 | 2018-06-13 | 查看 |
5 | 中科芯电 | 09类-科学仪器 | 31124099 | 商标已注册 | 2018-05-23 | 查看 |
6 | ACS | 01类-化学原料 | 31124055 | 商标已注册 | 2018-05-23 | 查看 |
7 | ACS | 38类-通讯服务 | 31120965 | 商标已注册 | 2018-05-23 | 查看 |
8 | ACS | 35类-广告销售 | 31120918 | 商标无效 | 2018-05-23 | 查看 |
9 | 中科芯电 | 38类-通讯服务 | 31117643 | 商标无效 | 2018-05-23 | 查看 |
10 | ACS | 09类-科学仪器 | 31116473 | 商标已注册 | 2018-05-23 | 查看 |
专利信息17
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 应用于VCSEL结构外延片的光致发光测试的逐层刻蚀方法及其VCSEL结构外延片 | 发明专利 | CN201811563848.X | CN109507006B | 2021-09-28 |
2 | 一种GaAs基高电子迁移率晶体管材料及其制备方法 | 发明专利 | CN201810660416.4 | CN108565285B | 2021-09-28 |
3 | 一种用于光致发光测试的VCSEL结构外延材料结构及制备方法 | 发明专利 | CN201811564308.3 | CN111355118B | 2021-07-20 |
4 | 改善低掺杂浓度材料表面欧姆接触的方法及材料 | 发明专利 | CN201811137925.5 | CN109273357B | 2021-03-23 |
5 | 一种用于光致发光测试的VCSEL结构外延材料结构及制备方法 | 发明专利 | CN201811564308.3 | CN111355118A | 2020-06-30 |
6 | 一种应用于高电子迁移率晶体管的缓冲层结构和材料结构 | 实用新型 | CN201921265321.9 | CN210349843U | 2020-04-17 |
7 | 一种增大自旋轨道耦合的方法和自旋晶体管 | 发明专利 | CN202010050900.2 | CN110875182B | 2020-03-10 |
8 | 一种增大自旋轨道耦合的方法和晶体管 | 发明专利 | CN202010050900.2 | CN110875182A | 2020-03-10 |
9 | 一种制作InSb红外探测器的材料结构及其制备方法 | 发明专利 | CN201910074399.0 | CN109817754A | 2019-05-28 |
10 | 一种多霍尔测试样品的测试夹具、测试控制器及测试方法 | 发明专利 | CN201811586561.9 | CN109696568A | 2019-04-30 |
软件著作权9
序号 | 软件名称 | 软件简称 | 版本号 | 登记号 | 分类号 | 首次发表日期 | 登记批准日期 |
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1 | 中科芯电晶片电阻率检测程序系统 | - | V1.0 | 2018SR243262 | 30200-0000 | - | 2018-04-11 |
2 | 中科芯电晶片传递装置管理系统 | - | V1.0 | 2018SR242021 | 30200-0000 | - | 2018-04-10 |
3 | 中科芯电晶片薄膜厚度检测程序系统 | - | V1.0 | 2018SR242017 | 30200-0000 | - | 2018-04-10 |
4 | 中科芯电晶片表面缺陷检测程序系统 | - | V1.0 | 2018SR241804 | 30200-0000 | - | 2018-04-10 |
5 | 中科芯电晶片清洗装置管理系统 | - | V1.0 | 2018SR241795 | 30200-0000 | - | 2018-04-10 |
6 | 中科芯电晶片烘烤装置管理系统 | - | V1.0 | 2018SR240601 | 30200-0000 | - | 2018-04-10 |
7 | 中科芯电晶片迁移率检测程序系统 | - | V1.0 | 2018SR240598 | 30200-0000 | - | 2018-04-10 |
8 | 中科芯电晶片浓度检测程序系统 | - | V1.0 | 2018SR240592 | 30200-0000 | - | 2018-04-10 |
9 | 中科芯电晶片表面颗粒度检测程序系统 | - | V1.0 | 2018SR240589 | 30200-0000 | - | 2018-04-10 |
作品著作权0
网站备案2
序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
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1 | 中科芯电半导体科技(北京)有限公司 | www.acs-semi.com | 京ICP备18020543号 | 企业 | 2021-12-29 |
2 | 中科芯电半导体科技(北京)有限公司 | www.acs-semi.com | 京ICP备18020543号 | 企业 | 2018-04-25 |
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