商标信息2
专利信息13
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 一种底部填充胶组合物 | 发明专利 | CN201910611768.5 | CN110358483B | 2021-11-26 |
2 | 一种SiP芯片低温EMI真空磁控溅射镀膜设备 | 实用新型 | CN202120627725.9 | CN214496463U | 2021-10-26 |
3 | 一种高精度半导体边框切割装置及其方法 | 发明专利 | CN202110726899.5 | CN113305453A | 2021-08-27 |
4 | 一种芯片封装工艺真空溅镀的遮蔽板结构 | 实用新型 | CN202022861646.2 | CN213624352U | 2021-07-06 |
5 | 一种SiP芯片低温EMI真空磁控溅射镀膜设备及方法 | 发明专利 | CN202110326801.7 | CN112877666A | 2021-06-01 |
6 | 一种在系统级封装实现选择性电磁屏蔽的工艺 | 发明专利 | CN202010542197.7 | CN111755424A | 2020-10-09 |
7 | 一种自动晶圆清洗涂胶装置 | 实用新型 | CN201921295443.2 | CN210585533U | 2020-05-22 |
8 | 一种晶圆激光开槽装置 | 实用新型 | CN201921254512.5 | CN210548930U | 2020-05-19 |
9 | 一种基于镭射切割快速检测方法的QFN封装结构 | 实用新型 | CN201921546330.5 | CN210349826U | 2020-04-17 |
10 | 一种等离子切割晶圆用的保护溶液及其在加工晶圆中的应用方法 | 发明专利 | CN201910612155.3 | CN110408283A | 2019-11-05 |
软件著作权5
序号 | 软件名称 | 软件简称 | 版本号 | 登记号 | 分类号 | 首次发表日期 | 登记批准日期 |
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1 | 泰研激光标记图形编辑系统 | 图形编辑系统 | V1.0.0 | 2021SR0363963 | - | 2020-11-18 | 2021-03-09 |
2 | 泰研半导体设备SECSGEM系统 | SECSGEM系统 | V1.0.0 | 2021SR0325899 | - | 2020-11-18 | 2021-03-02 |
3 | 泰研激光精密切割系统 | 激光切割系统 | V1.0.0 | 2021SR0325890 | - | 2020-11-18 | 2021-03-02 |
4 | 泰研激光标记字体编辑系统 | 字体编辑系统 | V1.0.0 | 2021SR0325888 | - | 2020-11-18 | 2021-03-02 |
5 | 泰研芯片塑封体激光自动标记系统 | 芯片标记系统 | V1.0.0 | 2021SR0325736 | - | 2020-11-18 | 2021-03-02 |
作品著作权0
网站备案3
序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
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1 | 深圳泰研半导体装备有限公司 | www.teyansemi.com | 粤ICP备19114236号 | 企业 | 2019-09-12 |
2 | 深圳泰研半导体装备有限公司 | www.teyansemi.com | 粤ICP备19114236号 | 企业 | 2019-09-12 |
3 | - | www.teyansemi.com | 粤ICP备19114236号 | 企业 | 2019-09-12 |
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