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官网： www.cengol.com

地址：北京市北京经济技术开发区通惠干渠路17号院2号楼3层、4层、5层

知识产权161

商标信息 18
专利信息 141
软件著作权 0
作品著作权 0
网站备案 2

商标信息18

序号	商标名称	国际分类	注册号	状态	申请日期	操作
1	图形	09类-科学仪器	28730309	商标已注册	2018-01-16	查看
2	CENGOL	09类-科学仪器	28728209	商标已注册	2018-01-16	查看
3	世纪金光	09类-科学仪器	28717336	商标已注册	2018-01-16	查看
4	CENGOL	42类-网站服务	20999256	商标已注册	2016-08-16	查看
5	BEIJING CENTURY GOLD RAY SEMICONDUCTOR CO.，LTD.	42类-网站服务	20999248	商标已注册	2016-08-16	查看
6	北京世纪金光半导体有限公司	42类-网站服务	20999218	商标已注册	2016-08-16	查看
7	BEIJING CENTURY GOLD RAY SEMICONDUCTOR CO.,LTD.	35类-广告销售	20999090	商标已注册	2016-08-16	查看
8	CENGOL	35类-广告销售	20999080	商标已注册	2016-08-16	查看
9	北京世纪金光半导体有限公司	35类-广告销售	20999077	商标已注册	2016-08-16	查看
10	BEIJING CENTURY GOLD RAY SEMICONDUCTOR CO., LTD	09类-科学仪器	20998938	商标已注册	2016-08-16	查看

专利信息141

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	符合产业化生产的高厚度低缺陷六英寸碳化硅晶体生长方法	发明专利	CN202010502357.5	CN113174631A	2021-07-27
2	大直径高纯半绝缘碳化硅生长工艺方法	发明专利	CN202010517759.2	CN113151895A	2021-07-23
3	基于人工智能的晶体生长分析方法及系统	发明专利	CN202010502352.2	CN113130017A	2021-07-16
4	基于人工智能的晶片质量分析评价系统	发明专利	CN202010499126.3	CN113130016A	2021-07-16
5	一种新型半导体单晶片位错密度检测腐蚀工装及方法	发明专利	CN202010502354.1	CN113122929A	2021-07-16
6	一种大尺寸碳化硅晶体生长用籽晶	发明专利	CN202010517681.4	CN113122922A	2021-07-16
7	一种生长低碳包裹物大尺寸高纯单晶的装置及方法	发明专利	CN202010502356.0	CN113122921A	2021-07-16
8	一种维持大尺寸碳化硅晶型稳定的装置及生长方法	发明专利	CN202010517206.7	CN113122914A	2021-07-16
9	一种金属埋层高散热GaN二极管结构及其制备方法	发明专利	CN201710768045.7	CN107634104B	2021-06-11
10	一种金属埋层高散热GaN二极管结构及其制备方法	发明专利	CN201710768045.7	CN107634104A	2021-06-11

共 15 页

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暂无软件著作权

作品著作权0

暂无信息

暂无作品著作权

网站备案2

序号	网站名	网址	备案号	主办单位性质	审核日期
1	世纪金光	www.cengol.com	京ICP备2021006800号	企业	2021-03-09
2	世纪金光	www.cengol.com	京ICP备2021006800号	企业	2021-03-09

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