商标信息2
专利信息13
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 一种评估射频功率LDMOS器件散热特性的方法以及系统 | 发明专利 | CN201910019893.7 | CN109917260B | 2021-06-29 |
2 | 一种评估射频功率LDMOS器件散热特性的方法以及系统 | 发明专利 | CN201910019893.7 | CN109917260A | 2021-06-29 |
3 | 一种LDMOS器件以及制作方法 | 发明专利 | CN201910313332.8 | CN110010473A | 2019-07-12 |
4 | LDMOS器件及其制造方法 | 发明专利 | CN201910149287.7 | CN109920737A | 2019-06-21 |
5 | 半导体器件及其制造方法 | 发明专利 | CN201811613682.8 | CN109860300A | 2019-06-07 |
6 | 一种LDMOS器件结构 | 实用新型 | CN201821139718.9 | CN208861995U | 2019-05-14 |
7 | 一种LDMOS器件 | 实用新型 | CN201821139050.8 | CN208589450U | 2019-03-08 |
8 | 半导体器件寄生电阻获取方法 | 发明专利 | CN201810799302.8 | CN109143015B | 2019-01-04 |
9 | 半导体器件寄生电阻获取方法 | 发明专利 | CN201810799302.8 | CN109143015A | 2019-01-04 |
10 | 一种LDMOS器件结构及其制作方法 | 发明专利 | CN201810791054.2 | CN109119472A | 2019-01-01 |
软件著作权0
作品著作权0
网站备案1
序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
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1 | 北京顿思集成电路设计有限责任公司 | www.dunsemi.com | 京ICP备18048522号 | 企业 | 2018-09-18 |
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