商标信息7
| 序号 | 商标名称 | 国际分类 | 注册号 | 状态 | 申请日期 | 操作 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | TWINPROBE | 09类-科学仪器 | 57069400 | 等待实质审查 | 2021-06-21 | 查看 |
| 2 | TWINSOLUTION | 09类-科学仪器 | 12812765 | 商标已注册 | 2013-06-25 | 查看 |
| 3 | 图形 | 09类-科学仪器 | 12812740 | 商标已注册 | 2013-06-25 | 查看 |
| 4 | TWINPROBE | 09类-科学仪器 | 8608729 | 商标无效 | 2010-08-25 | 查看 |
| 5 | TWINTECH | 09类-科学仪器 | 8452646 | 商标已注册 | 2010-07-05 | 查看 |
| 6 | TWINSOCKET | 09类-科学仪器 | 8425133 | 商标已注册 | 2010-06-25 | 查看 |
| 7 | 韬盛科技 TWINSOLUTION TECHNOLOGY | 09类-科学仪器 | 8424993 | 商标已注册 | 2010-06-25 | 查看 |
专利信息21
| 序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 半导体芯片测试装置 | 实用新型 | CN201420806289.1 | CN204359904U | 2015-05-27 |
| 2 | 芯片测试治具 | 实用新型 | CN201420692600.4 | CN204303758U | 2015-04-29 |
| 3 | 探针寿命测试仪 | 实用新型 | CN201420745124.8 | CN204302386U | 2015-04-29 |
| 4 | 应用于开尔文测试的芯片测试针及治具 | 实用新型 | CN201420706715.4 | CN204302330U | 2015-04-29 |
| 5 | 微电机系统测试针 | 实用新型 | CN201420693039.1 | CN204302329U | 2015-04-29 |
| 6 | 适用于高频测试的芯片测试插座 | 实用新型 | CN201420745125.2 | CN204302321U | 2015-04-29 |
| 7 | 芯片测试固定装置 | 实用新型 | CN201420692668.2 | CN204302319U | 2015-04-29 |
| 8 | 一种集成电路测试治具 | 实用新型 | CN201320436761.2 | CN203376446U | 2014-01-01 |
| 9 | 顶针式的集成电路测试治具 | 发明专利 | CN201310304331.X | CN103399268A | 2013-11-20 |
| 10 | 一种手动式芯片测试夹具 | 实用新型 | CN201120282990.4 | CN202204837U | 2012-04-25 |
软件著作权0
暂无软件著作权
作品著作权0
暂无作品著作权
网站备案1

| 序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 上海韬盛电子科技股份有限公司 | www.twinsolution.com | 沪ICP备19040573号 | 企业 | 2019-11-11 |
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