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序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	一种基于测试封装Mapping自动检查校验方法及系统	发明专利	CN202210299882.0	CN114416514B	2022-06-24
2	一种基于测试封装Mapping自动检查校验方法及系统	发明专利	CN202210299882.0	CN114416514A	2022-06-24
3	一种低温探针台清针砂纸的更换装置和更换方法	发明专利	CN202210276338.4	CN114346873B	2022-06-24
4	一种低温探针台清针砂纸的更换装置和更换方法	发明专利	CN202210276338.4	CN114346873A	2022-06-24
5	一种全方位检测晶舟盒内晶圆的装置	发明专利	CN202210299267.X	CN114400190B	2022-06-10
6	一种晶舟盒内晶圆位置检测装置	发明专利	CN202210289165.X	CN114379830B	2022-06-10
7	一种基于ATE通用CIS芯片测试系统及方法	发明专利	CN202210300651.7	CN114400195B	2022-06-03
8	一种晶圆清理装置	实用新型	CN202123285659.0	CN216539937U	2022-05-17
9	晶圆分导设备及其工作方法	发明专利	CN202210299371.9	CN114400199A	2022-04-26
10	一种基于ATE通用CIS芯片测试系统及方法	发明专利	CN202210300651.7	CN114400195A	2022-04-26

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