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序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	一种掩膜版及套刻精度测量方法	发明专利	CN201210230386.6	CN102722082B	2019-01-18
2	EEPROM存储单元以及EEPROM存储器	发明专利	CN201210143432.9	CN102682845B	2018-10-16
3	存储器的检测方法	发明专利	CN201310317888.7	CN103366831B	2018-08-21
4	IP核检测版图、版图设计系统及版图设计方法	发明专利	CN201210396347.3	CN102880763B	2018-07-31
5	一种半导体检测系统和回刻深度的测量方法	发明专利	CN201210366154.3	CN102856228B	2018-03-30
6	识别化学机械研磨设备的研磨性能的方法	发明专利	CN201210030428.1	CN102554768B	2018-02-09
7	电阻模型的建模方法	发明专利	CN201310321036.5	CN103390086B	2018-01-26
8	电可擦可编程只读存储器结构以及电子设备	发明专利	CN201210093908.2	CN102623057B	2018-01-26
9	内置菲涅耳透镜的图像传感器及其制造方法	发明专利	CN201210061931.3	CN102569327B	2018-01-26
10	自对准闪存中的浮栅结构及其制造方法	发明专利	CN201110341960.0	CN102394243B	2018-01-26

共 270 页

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