商标信息5
专利信息174
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 一种集成电路用硅片无损伤转移方法 | 发明专利 | CN202010258603.7 | CN113496930A | 2021-10-12 |
2 | 一种集成电路硅片表面氧化膜自适应均匀腐蚀方法 | 发明专利 | CN202010258262.3 | CN113496891A | 2021-10-12 |
3 | 一种集成电路用硅片的均匀腐蚀方法 | 发明专利 | CN202010258298.1 | CN113496887A | 2021-10-12 |
4 | 一种集成电路用单晶硅片碱腐蚀去除量的控制方法 | 发明专利 | CN202010258257.2 | CN113496886A | 2021-10-12 |
5 | 一种外延基底用硅晶片之背面膜层及制造方法 | 发明专利 | CN202010258596.0 | CN113496871A | 2021-10-12 |
6 | 一种集成电路用硅片边缘形貌控制方法 | 发明专利 | CN202010258530.1 | CN113496870A | 2021-10-12 |
7 | 一种外延基底用硅晶片之背面膜层及制造方法 | 发明专利 | CN202010258297.7 | CN113496869A | 2021-10-12 |
8 | 一种硅片的抛光后清洗方法 | 发明专利 | CN202010258268.0 | CN113496868A | 2021-10-12 |
9 | 硅片金属杂质检测样品保护装置及硅片金属杂质检测方法 | 发明专利 | CN202010258528.4 | CN113495095A | 2021-10-12 |
10 | 一种减少抛光片表面划痕方法 | 发明专利 | CN202010258285.4 | CN113492399A | 2021-10-12 |
软件著作权0
作品著作权0
网站备案2
序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
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1 | 上海超硅半导体有限公司 | www.ast.com.cn | 沪ICP备19043125号 | 企业 | 2021-02-20 |
2 | 上海超硅半导体有限公司 | www.ast.com.cn | 沪ICP备19043125号 | 企业 | 2021-02-20 |
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