商标信息8
序号 | 商标名称 | 国际分类 | 注册号 | 状态 | 申请日期 | 操作 |
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1 | 因九洱 | - | 43876094 | 商标已注册 | 2020-01-17 | 查看 |
2 | HEPITAXY | 09类-科学仪器 | 31192473 | 商标已注册 | 2018-05-25 | 查看 |
3 | HUAXING EPITAXY | 09类-科学仪器 | 27736092 | 商标无效 | 2017-11-28 | 查看 |
4 | H-EPI | 09类-科学仪器 | 27736091 | 商标已注册 | 2017-11-28 | 查看 |
5 | 图形 | 09类-科学仪器 | 23296156 | 商标已注册 | 2017-03-27 | 查看 |
6 | 华兴 | 09类-科学仪器 | 23296155 | 商标无效 | 2017-03-27 | 查看 |
7 | HUAXING OPTOELECTRONICS | 09类-科学仪器 | 23296154 | 商标已注册 | 2017-03-27 | 查看 |
8 | 华兴激光 HUAXING OPTO | 09类-科学仪器 | 23296153 | 商标无效 | 2017-03-27 | 查看 |
专利信息77
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 无制冷抗反射InP基量子点/量子阱耦合EML外延片的制备方法 | 发明专利 | CN202111293051.4 | CN114188823A | 2022-03-15 |
2 | 一种1342纳米波长大功率微结构DFB激光器 | 发明专利 | CN202111293304.8 | CN114188819A | 2022-03-15 |
3 | 一种硅基多结太阳电池及其渐变缓冲层 | 发明专利 | CN202111325702.3 | CN114171615A | 2022-03-11 |
4 | 一种基于GaAs衬底制备InP薄膜的方法 | 发明专利 | CN202111325697.6 | CN114134565A | 2022-03-04 |
5 | 一种外延片的快速研磨方法及装置 | 发明专利 | CN202111251036.3 | CN113696091B | 2022-02-08 |
6 | 一种外延片的贮存方法及装置 | 发明专利 | CN202111237224.0 | CN113682657B | 2022-02-08 |
7 | 一种外延片的存储运输方法及装置 | 发明专利 | CN202111237173.1 | CN113675120B | 2022-02-08 |
8 | 一种半导体缺陷分布成像检测装置及检测方法 | 发明专利 | CN202111237891.9 | CN113984787A | 2022-01-28 |
9 | 一种半导体缺陷对荧光寿命影响的检测装置及检测方法 | 发明专利 | CN202111251520.6 | CN113984727A | 2022-01-28 |
10 | 一种半导体深能级缺陷检测装置及检测方法 | 发明专利 | CN202111237939.6 | CN113970559A | 2022-01-25 |
软件著作权13
序号 | 软件名称 | 软件简称 | 版本号 | 登记号 | 分类号 | 首次发表日期 | 登记批准日期 |
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1 | 半导体量子阱激光器仿真分析系统 | QWLCAD | V3.0 | 2019SR0982338 | - | - | 2019-09-23 |
2 | 光波导模式多方法分析系统 | WGCAD | V3.0 | 2019SR0982334 | - | - | 2019-09-23 |
3 | 光探测器性能测试软件 | PINDETECTOR | V2.0 | 2018SR732164 | - | - | 2018-09-11 |
4 | 半导体量子阱材料能带设计软件 | Band Design | V 2.0 | 2018SR122025 | - | - | 2018-02-24 |
5 | 光电子有源器件仿真设计软件 | OEDS | V 2.0 | 2018SR119068 | - | - | 2018-02-23 |
6 | 华兴半导体激光芯片光限制因子计算软件 | 半导体激光芯片光限制因子计算软件 | V1.0 | 2017SR129143 | - | - | 2017-04-20 |
7 | 华兴半导体激光芯片载流子动力学过程分析软件 | 半导体激光芯片载流子动力学过程分析软件 | V1.0 | 2017SR127214 | - | - | 2017-04-20 |
8 | 华兴半导体光电芯片可靠性数据分析软件 | 半导体光电芯片可靠性数据分析软件 | V1.0 | 2017SR124580 | - | - | 2017-04-19 |
9 | 华兴半导体光电薄膜制备过程前驱体流场分析软件 | 半导体光电薄膜制备过程前驱体流场分析软件 | V1.0 | 2017SR124579 | - | - | 2017-04-19 |
10 | 华兴化合物半导体薄膜表面化学势计算软件 | 化合物半导体薄膜表面化学势计算软件 | V1.0 | 2017SR124527 | - | - | 2017-04-19 |
作品著作权0
网站备案3
序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
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1 | 江苏华兴激光科技有限公司 | www.hxopto.com | 苏ICP备16044087号 | 企业 | 2019-03-27 |
2 | 江苏华兴激光科技有限公司 | www.hxopto.com | 苏ICP备16044087号 | 企业 | 2019-03-27 |
3 | - | www.hxopto.com | 苏ICP备16044087号 | 企业 | 2019-03-27 |
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