商标信息0
专利信息13
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 一种半导体器件的制造方法 | 发明专利 | CN202111316940.8 | CN114050135A | 2022-02-15 |
2 | 晶圆级封装结构及制作方法 | 发明专利 | CN202111260477.X | CN114005792A | 2022-02-01 |
3 | 晶圆表面粗糙度检测装置 | 发明专利 | CN202111263869.1 | CN114001701A | 2022-02-01 |
4 | 集成电路晶圆测试装置及方法 | 发明专利 | CN202111246911.9 | CN113884716A | 2022-01-04 |
5 | 集成半导体器件及其制造方法 | 发明专利 | CN202110766575.4 | CN113539993A | 2021-10-22 |
6 | 一种晶圆承载装置 | 发明专利 | CN202110777514.8 | CN113539937A | 2021-10-22 |
7 | 集成电路封装体的制造方法 | 发明专利 | CN202110767256.5 | CN113539840A | 2021-10-22 |
8 | 一种电子半导体加工用清洗装置 | 发明专利 | CN202011525945.7 | CN112893302A | 2021-06-04 |
9 | 一种用于微电子半导体的电阻检测装置 | 发明专利 | CN202011593162.2 | CN112763762A | 2021-05-07 |
10 | 一种集成电路测试载板 | 发明专利 | CN202011559783.9 | CN112731105A | 2021-04-30 |
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